MIL-M-6857D
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MIL-M-6857D, MILITARY SPECIFICATION: MAGNESIUM ALLOY CASTINGS, HEAT TREATMENT OF (30 JUL 1990) [S/S by SAE-AMS2768]., This specification covers the requirements for the heat treatmentof magnesium alloy castings. This specification covers furnace equipmentrequirements, and general information for heat treating procedures and heattreating temperatures for magnesium alloys.
基本信息
| 标准名称： | 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 |
| 英文名称： | Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance |
| 中标分类： |
冶金 >>
半金属与半导体材料 >>
半金属与半导体材料综合 |
| ICS分类： |
电气工程 >>
半导体材料
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| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2011-01-10 |
| 实施日期： | 2011-10-01 |
| 首发日期： | 2011-01-10 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国半导体设备和材料标准化委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
| 归口单位： | 全国半导体设备和材料标准化委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
| 起草单位： | 有研半导体材料股份有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、中国计量科学研究院、万向硅峰电子有限公司、广州昆德科技有限公司、洛阳单晶硅有限责任公司 |
| 起草人： | 曹孜、孙燕、黄黎、高英、石宇、楼春兰、王世进、张静雯 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2011-10-01 |
| 页数： | 28页 |
适用范围
本方法适用于测量均匀掺杂、经过抛光处理的n型或p型硅片的载流子复合寿命。本方法是非破坏性、无接触测量。在电导率检测系统的灵敏度足够的条件下,本方法也可应用于测试切割或者经过研磨、腐蚀硅片的载流子复合寿命。
前言
没有内容
目录
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 检测方法概述 2
5 干扰因素 3
6 设备 4
7 试剂 5
8 取样及样片制备 5
9 测试步骤 7
10 报告 8
11 精密度和偏差 8
附录A (规范性附录) 注入水平的修正 9
附录B(资料性附录) 注入水平的相关探讨 10
附录C (资料性附录) 载流子复合寿命与温度的关系 13
附录D (资料性附录) 少数载流子复合寿命 16
附录E (资料性附录) 测试方法目的和精密度 19
参考文献 20
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针测量方法
GB/T1553—2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法
GB/T6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T11446.1 电子级水
GB/T13389 掺硼、掺磷硅单晶电阻率与掺杂浓度换算规则
GB/T14264 半导体材料术语
YS/T679—2008 非本征半导体少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
SEMIMF978 瞬态电容技术测量半导体深能级的测试方法
SEMIMF1388 金属-氧化物-硅(MOS)电容的电容-时间关系测量硅材料产生寿命和产生速率的测试方法
SEMIMF1530 自动无接触扫描测量硅片平整度、厚度和厚度变化的测试方法
所属分类： 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
基本信息
| 标准名称： | 使用过的润滑油中添加剂元素、磨损金属和污染物以及基础油中某些元素测定法(电感耦合等离子体发射光谱法) |
| 英文名称： | STANDARD test method for determination of additive elements,wear metals,and contaminants in used lubricanting oils and determination of selected elements in base oils by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry (ICP-AES) |
| 中标分类： |
石油 >>
石油产品 >>
石油产品综合 |
| ICS分类： |
石油及相关技术 >>
石油产品综合
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| 发布部门： | 国家质量技术监督局 |
| 发布日期： | 1998-08-20 |
| 实施日期： | 1999-01-01 |
| 首发日期： | 1998-08-20 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 中国石油化工集团公司 |
| 归口单位： | 中国石油化工集团公司 |
| 起草单位： | 中国石油化工总公司石油化工科学研究院 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：13， 字数：21千字 |
适用范围
本标准规定了用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES）法测定使用过的润滑油中添加剂素、磨损金属和污染物，以及基础油或再生基础油中各种选择金属素含量。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 石油 石油产品 石油产品综合 石油及相关技术 石油产品综合
