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DIN EN 50117-2-4-2005 同轴电缆.第2-4部分:电缆配电网络用电缆的分规范.在5MHz-3000MHz上运行的系统用室内引入电缆

作者:标准资料网 时间:2024-05-08 19:57:50  浏览:9651   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Coaxialcables-Part2-4:Sectionalspecificationforcablesusedincableddistributionnetworks-Indoordropcablesforsystemsoperatingat5MHz-3000MHz;GermanversionEN50117-2-4:2004
【原文标准名称】:同轴电缆.第2-4部分:电缆配电网络用电缆的分规范.在5MHz-3000MHz上运行的系统用室内引入电缆
【标准号】:DINEN50117-2-4-2005
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2005-08
【实施或试行日期】:2005-08-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:特性;质量保证;电性质和电现象;安装电缆;同轴;火焰表面传播;电气工程;电缆网络;规范(验收);环境条件;分规范;信号传输;内部电缆;识别;电缆分布系统;分配器;材料;质量评定程序;测量技术;设计;中继电缆;同轴电缆;家用(安装)设备;插接件连接;作标记;试验;定义;机械性能;电缆
【英文主题词】:Cabledistributionsystems;Cablednetworks;Cables;Coaxial;Coaxialcables;Connectoredjoints;Definition;Definitions;Design;Distributors;Electricalengineering;Electricalpropertiesandphenomena;Environmentalcondition;Houseinstallations;Identification;Insidecables;Installationcables;Marking;Materials;Measuringtechniques;Mechanicalproperties;Properties;Qualityassessmentprocedures;Qualityassurance;Sectionalspecification;Signaltransmission;Specification(approval);Surfacespreadofflame;Testing;Trunkcables
【摘要】:
【中国标准分类号】:K13
【国际标准分类号】:33_120_10
【页数】:16P.;A4
【正文语种】:德语


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基本信息
标准名称:硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
英文名称:Test method for sheet resistance of silicon epitaxial,diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 14141-1993
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1993-02-06
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:宁波立立电子股份有限公司、南京国盛电子有限公司、信息产业部专用材料质量监督检验中心
起草人:李慎重、许峰、刘培东、谌攀、马林宝、何秀坤
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20065624-T-469
适用范围

本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。
本标准适用于测量直径大于15.9mm 的由外延、扩散、离子注入到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2μm 的薄层,方块电阻的测量范围为10Ω~5000Ω。该方法也可适用于更高或更低阻值方块电阻的测量,但其测量精确度尚未评估。

前言

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目录

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引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
GB/T11073 硅片径向电阻率变化的测量方法

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
【英文标准名称】:Rubber,unvulcanized--Physicalproperty--Part2:Determinationofcurecharacteristicswithoscillatingcuremeters
【原文标准名称】:未硫化橡胶.物理特性.第2部分:用振荡固化器测定固化特性
【标准号】:JISK6300-2-2001
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2001-01-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonChemicalProducts
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:树胶;硫化计
【英文主题词】:gums;
【摘要】:この規格は,振動式加硫試験機を用いて,配合ゴムの加硫過程の物理特性を求める方法について規定する。
【中国标准分类号】:G34
【国际标准分类号】:83_060
【页数】:39P;A4
【正文语种】:日语